Series 475

技术特性

  • 分辨率:
    英制 .0005" 或 .0001" / 公制 0.01mm 或 0.001mm
  • 安装可换测杆扩大测量范围
  • 测量面经淬火、抛光和研磨处理,平面度高
  • 数显有百分表和千分表可选
  • 两种基座尺寸可选

标准配置

  • 电池、可换测杆
  • 产品保证卡、使用说明书、校准报告

規格表標題

测量范围分辨率精度基座尺寸Code No. 
0-0.4" / 0-100mm .0005" .001" 63 x 17mm 475-04-0
0-0.4" / 0-100mm .0005" .001" 101.5 x 17mm 475-04-2
0-0.4" / 0-100mm .00005" .0005" 63 x 17mm 475-04-4
0-0.4" / 0-100mm .00005" .0005" 101.5 x 17mm 475-04-6
测量范围分辨率精度基座尺寸货号 
0-100mm / 0-0.4" 0.01mm 0.02mm 63 x 17mm 475-04-0
0-100mm / 0-0.4" 0.01mm 0.02mm 101.5 x 17mm 475-04-2
0-100mm / 0-0.4" 0.001mm 0.01mm 63 x 17mm 475-04-4
0-100mm / 0-0.4" 0.001mm 0.01mm 101.5 x 17mm 475-04-6
语系